多波長アッベ屈折計    DR-M2/1550

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波長変更可能 1550nm域対応モデル

多波長アッベ屈折計DR-M2の1550nmまで測定可能なモデルです。 1550nm域は近年の通信分野の素材開発において需要が多くなっています。 光ファイバーの素材、フィルム、液晶、光学硝子などの測定に適しています。 屈折計本体、電源ユニット、白色光源装置、近赤外光ビュア、干渉フィルターで構成されます。 また、プリンター(オプション)との接続も可能です。

製品の情報

型式 DR-M2/1550
Cat.No. 1412
測定範囲 屈折率: 1.3278~1.7379 (450nm)
屈折率: 1.3000~1.7100 (589nm)
屈折率: 1.2912~1.7011 (680nm)
屈折率: 1.2743~1.6840 (1,100nm)
屈折率: 1.2662~1.6759 (1,550nm)
測定精度 屈折率 : ±0.0002
(付属のテストピース589nmにて)

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